赤外線カメラと赤外線サーモグラフィのケン・オートメーション

　1月25日、横浜にて「第4回CEDIP赤外線カメラを用いた技術交流会」が盛況のうちに開催され、参加者も年々増加し、今回は70名以上に達しました。
　 講演も、海外からCEDIP社　Bremond氏、e/de/vis社 Dillenz氏を向かえ、赤外線カメラを用いた新しい非破壊検査装置等が紹介され、大きな反響を呼びました。
　又、国内に於ける赤外線カメラを用いた応力の計測に関わる事例が、大阪大学　坂上先生、東京工業大学　井上先生、JFEテクノリサーチ株式会社　渋谷様、松下電器産業株式会社　入江様より紹介され、多くの質疑応答が交わされました。　
　引き続き行なわれました懇親会にも多くのお客さまのご参加をいただき、日ごろの苦労話など、終始和やかな交流の一時が過ぎていきました。