赤外線カメラと赤外線サーモグラフィのケン・オートメーション
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主な欠陥検出事例
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主な仕様
JENOPTIK Surface Inspection GmbH
硝子(PDP・LCD等)・フィルム(TAC・AG・AR・位相差・拡散等)・紙・金属・プラスチッ ク(RPJ)等について筋・傷・染み等の欠陥を検出します。(生産ライン対応可能)
SIRISシリーズは、高解像度テレセントリック・レーザ・システムを用いて高速で欠陥検出を行います。
主な用途としては、硝子(PDP・LCD用マザー硝子〜蒸着状態まで各種)・光学フィルム(TAC・拡散・位相差・偏光・AG・AR等各種)・医療用フィルム・プラスチック関連・金属・紙・繊維・ウェハ等多品目に渡り、それぞれ傷(ひっかき傷・ぎざぎざ傷・エッジ破損等)染み・汚れ・気泡・打痕・すじ等検出できる種類も豊富です。
検出側も単体又は複数を選択でき、複数の場合は、角度依存性のある反射情報など洩れなく検出する事が可能です。これにより、欠陥検出精度が向上します。又、明視野・暗視野・透過・反射等様々な計測モードと、豊富なデータベースによりオペレーターにストレスを与えず、簡潔に欠陥検査が可能となりました。
このシステムにより、品質・歩留まりについて共に向上する事が可能となり、かつリアルタイム・プロセス補正等に役立ちます。
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