THE MOST Advanced Pressure Imaging system

sentronics社が持つ
特許SCI技法による
高精度な測定・検査装置

※Spectral Coherence Interference

装置概要と特徴

StraDexは非接触にて、
下記の計測が可能です。

  • フィルム多層膜厚
  • コーティング厚
  • 接着層厚
  • 表面形状(SemDex)

In-LineにてX軸のトラバース装置等を用いてフィルム厚のモニタリングに利用可能です。又、コーティング厚の一例として、有機溶剤を使用した接着剤の塗布厚を防爆仕様の収納装置に入れた状態で適用可能です。同ヘッドを利用して、表面形状計測を可能にしたSemDexも別途紹介されています。

StraDex f2, t6
StraDex P
StraDex Traverse Unit
コントロールユニット
重さ 13KG
電源 100-240V

検査事例

v
Castモード 3層層厚測定
Blowモードの層厚測定
精度

仕様

StraDex ヘッドタイプ f2-80 f2-300 p-80 p-300 t6-60
実用計測層数 5~6層
(最大Webスピード 500m/min)
単層
(200m/min)
実用計測層厚
(ガラス、フィルム)
5-200μm 12-300μm 5-100μm 12-100μm 0.3-15μm
(ポリマー)
実用計測層厚
(シリコン)
2.5-60μm 7-350μm 2.5-60μm 7-100μm 0.2-8μm
(シリコン)
繰り返し精度
(ガラス、シリコン)
< 0.1μm 1nm~
繰り返し精度
(フィルム)
< 0.3μm
使用波長 830nm 1300nm 830nm 1300nm 400-750nm
スポットサイズ 8μm 12μm 5μm 7μm 50μm(<100μm)
サンプリングレート 16k/4kHz 4kHz 16k/4kHz 4kHz 4kHz
ワーキングレンジ 2-22mm 8mm 6-11mm
外形サイズ, 重量 61 x 61 x 120mm , 500g
動作環境温度 20-50℃

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