非破壊評価総合展 2017
期日 | 2017年7月19日(水)-21日(金) |
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会場 | 東京ビッグサイト |
小間番号 | 2F-12 |
展示内容 |
FLIR 赤外線応力測定システム
TELOPS 超高速赤外線カメラ
e/de/vis サーモグラフィ非破壊検査装置
ibg 渦流検査機
OptoSurf 非接触表面検査機
Ultran 空中伝搬超音波検査装置
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ケン・オートメーション企業セミナー(ワークショプ)
日時 7月21日(金)11:45-12:15 (東1ホール、第1セミナー会場)
セミナータイトル 内部・表面非破壊検査 機材と最新事例の紹介