非破壊評価総合展 2017

期日2017年7月19日(水)-21日(金)
会場東京ビッグサイト
小間番号2F-12
展示内容
FLIR                  赤外線応力測定システム
TELOPS              超高速赤外線カメラ
e/de/vis             サーモグラフィ非破壊検査装置  
ibg                     渦流検査機
OptoSurf            非接触表面検査機
Ultran       空中伝搬超音波検査装置
 

ケン・オートメーション企業セミナー(ワークショプ) 

日時 7月21日(金)11:45-12:15 (東1ホール、第1セミナー会場) 

セミナータイトル 内部・表面非破壊検査 機材と最新事例の紹介