非破壊評価総合展 2017
非破壊評価総合展 2017
| 期日 | 2017年7月19日（水）-21日（金） |
|---|---|
| 会場 | 東京ビッグサイト |
| 小間番号 | 2F-12 |
| 展示内容 | FLIR 赤外線応力測定システム TELOPS 超高速赤外線カメラ e/de/vis サーモグラフィ非破壊検査装置 ibg 渦流検査機 OptoSurf 非接触表面検査機 Ultran 空中伝搬超音波検査装置 |
ケン・オートメーション企業セミナー（ワークショプ）
日時 ７月２１日（金）１１：４５－１２：１５ （東１ホール、第１セミナー会場）
セミナータイトル 内部・表面非破壊検査 機材と最新事例の紹介
