欠陥検査
（内部・表面微細欠陥）

基本原理はPTvisと同じになります。

熱源をキセノンランプからレーザーに変更することにより、エネルギー密度を向上させることができます。これにより、赤外線的に光沢材料（金属表面等）であっても、塗装処理等を施さずに計測が可能となります。

金属材料などの品質検査ならびに自動検査等に適しています。