内部に潜む欠陥や微細な表面欠陥を各手法にて可視化
検査処置不要の非接触タイプ

最先端のものづくりにおける素材の進化、形状の複雑化に伴い物体内部の欠陥を探査することがますます難しくなっています。
ケン・オートメーションは、様々なエネルギーを対象物に当て、その変化を見るアクティブサーモグラフィやパッシブサーモグラフィ、非接触超音波の
手法で内部の状態を可視化し、接着不良、層間剥離、気泡、クラック、溶接の溶け込み深さ、溶接不良、微細な表面欠陥などをスピーディに測定します。
当社が長年培ったノウハウをもとにお客さまのご要望に応じて研究開発からインライン検査機まで、これらの装置の中から最適なソリューションを提供します。

ーモグラフィ非破壊検査装置

  • edevis
内部ナゲット径検査

アクティブサーモグラフィやパッシブサーモグラフィを用いて
欠陥を短時間で検出

赤外線アクティブサーモグラフィを用いた非破壊検査装置は外部よりランプ・レーザー・インダクティブヒーティング・超音波等で与えた熱エネルギーの伝搬状況を赤外線カメラで検知し、その伝搬状況の差異を分析することにより欠陥部位の特定・可視化を行います。この手法により非破壊検査を非接触かつ通常のドライな環境下で行えることが大きな特長となっています。
外部エネルギーとの最適な組み合わせにより、金属の溶接・接着・嵌合部検査、複合材や樹脂材の接着部検査、微細な表面欠陥など幅広い分野の検査にご利用いただけます。また、検査システムとしてインラインに組み込むことも可能です。
パッシブサーモグラフィは検査対象物から発する熱エネルギーの変化を解析し欠陥の有無や部位の特定などインラインに於ける高速検査を支援します。

ラヘルツ波微細走査システム

  • Protemics
テラヘルツ波微細走査システム

Protemics社独自のテラヘルツマイクロプローブは、従来のテラヘルツ画像化ツールの限界を打ち破り、テラヘルツ波波長分解能より遥かに高いミクロンスケールの解像度で、非接触近距離測定が可能です。
このマイクロプローブを利用したスキャニングシステムは、次のような用途に設計されています。

  • ・半導体ウェハ検査
  • ・シート抵抗イメージング
  • ・グラフェン分析
  • ・THz デバイスの特性評価
  • ・微細構造解析
  • ・非破壊検査

中伝播超音波非破壊検査機

  • the ultran group
円柱複合材の接着検査

非接触方式の空中伝播超音波を用いて
内部欠陥を検出

空中伝播超音波非破壊検査装置の特長は超音波を伝える水等の接触媒質が不要であるため、検査の前・後で接触媒質の塗布や拭き取りを省くことができます。また、このことにより、濡らすことができない対象物の内部欠陥検査に最適な検査装置です。
適用対象物としては、複合材、薄板、積層物、木質材、多孔性材などがあげられます。